來源:本站日期:2026-01-09
許多領域都要求監測顆粒污染程度,如:電子工業、制藥業、精密儀器制造業、液冷行業以及醫療領域,液體顆粒計數器是監測液體中顆粒污染物的有效設備。
根據光與顆粒作用,液體顆粒計數器原理分為光阻法和光散射法兩類,這兩種方法各有其特點和檢測范圍,目前也有將這兩種方法相結合的產品,來擴展顆粒計數器的檢測范圍。
光阻法液體顆粒計數器的檢測范圍從幾微米到數百微米,它的測試過程是:待測液體流過橫截面很小的流通池,流通池兩側裝有光學玻璃,激光器的光束通過透鏡組準直,穿過流通池并被光電探測器所接收。若待測液體中沒有顆粒,則光電探測器接收到的光信號穩定不變,輸出的電壓信號也恒定,將此恒定信號作為基準電壓;若液體中有顆粒物質,顆粒通過流通池傳感區域,將會遮擋激光,光電探測器接收到的光信號減小,產生一個負的脈沖電信號。
脈沖信號幅度與基準電壓信號有如下關系:
其中,E為顆粒遮擋引起的脈沖幅度;a為顆粒的有效遮擋面積(等效為球形πd2/4);A為光電探測器的有效面積;E0是沒有顆粒時的光電探測器所產生的基準電壓。因此,脈沖信號幅度對應顆粒的大小,脈沖信號個數對應顆粒的數量。
直接測量:測量的是顆粒的“幾何尺寸”(投影面積)。
對折射率不敏感:尤其適用于不透明、高吸光度或顏色深的顆粒(如金屬磨損顆粒、碳粉、墨水顆粒等)。顆粒的光學性質(折射率)影響較小,主要取決于其物理遮擋面積。
粒徑下限受限:受限于光源波長、光路準直性和信噪比。通常可測下限在1μm左右。
原理直觀,結果穩定:測量與顆粒的物理尺寸直接相關,受光學屬性變化影響小。
適合高濃度、不透明顆粒:是油液污染度分析(如液壓油、航空燃油)、磨損監測領域的絕對主流和標準方法。
校準相對簡單:可使用標準尺寸的乳膠球或經認證的粉塵進行校準。
對液體本身的潔凈度要求相對較低(與光散射法相比)。
小尺寸檢測限較高:難以檢測亞微米級的微小顆粒(如<1μm)。
重合誤差:當顆粒濃度過高,兩個或多個顆粒同時通過檢測區時,會被誤判為一個大的顆粒,導致計數和尺寸失真。因此需要對高濃度樣品進行稀釋。
對氣泡敏感:氣泡與固體顆粒一樣會產生遮擋信號,需要有效的脫氣處理或信號識別技術來區分。
光散射法液體顆粒計數器一般用于檢測納米級及亞微米級顆粒,它的測試過程是:待測液體流過流通池,流通池兩側裝有光學玻璃,激光器的光束通過透鏡組準直,光束穿過流通池,照射在光陷阱上。若待測液體中沒有顆粒,則光電探測器接收不到光信號,若液體中有顆粒,顆粒通過流通池,與激光光束發生散射現象。某一個(或幾個)角度下的散射光通過透鏡收集匯聚到光電探測器上,產生正的電信號脈沖,脈沖信號的幅度和散射光強成正比。根據信號的幅度和個數可以對液體中的微小顆粒進行計數檢測。
間接測量:測量的是顆粒的“光學等效尺寸”,強烈依賴于顆粒和液體的折射率匹配關系。
超高靈敏度:能夠檢測到非常微弱的散射光信號,因此粒徑下限極低,可達納米級。
對透明/半透明顆粒敏感:非常適合檢測液體中微小的膠體、蛋白質聚集體、細菌、硅溶膠等。
超高分辨率,可測粒徑小:是檢測亞微米和納米顆粒的首選技術。
適合低濃度、透明樣品:在電子級水、光刻膠、半導體、高端化學品、生物制劑等領域應用廣泛。
受折射率影響極大:如果顆粒和液體的折射率非常接近(如某些聚合物微球在水中),散射光信號會變得極弱,導致顆粒“隱身”無法被檢測或尺寸測量嚴重失真。
對液體本底潔凈度要求極高:任何微小的本底顆粒都會產生信號,因此需要超凈的試劑和環境。
校準和解釋更復雜:需要準確知道顆粒和介質的折射率,對于非球形、混合成分的顆粒,尺寸解釋存在不確定性。
不適用于不透明、深色液體:深色液體本身會吸收和散射大量入射光,導致信噪比急劇下降。
綜上,根據液體顆粒計數器原理可知,以油液、磨損金屬顆粒、不透明工業懸浮液為主,且主要關注>1μm顆粒首選光阻法。以電子級水、化學品中的微小顆粒、膠體、蛋白質聚集體為主,需檢測亞微米甚至納米顆粒 首選光散射法。
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